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因此，首个设地基板信号以金属铝和金的典型BE值记录，这证明样品和光谱仪之间有良好的电接触。每次测量中探测区域的大小为0.3×0.7mm2（用红色矩形表示）[1]为了排除表面充电现象的可能影响，碳排统建作者还记录了Al2p、Au4f和O1s核心能级光谱。
放方标在单独的实验中验证了Al-O峰。图3.从铝箔和金箔样品（如右图所示）记录的外源碳的C1s光谱作为横向位置的函数，线监从铝箔(1)到金箔(9)以0.1mm的步长变化。此外，测系C1s峰位置还与样品表面性质有关，半导体或者绝缘体在X射线照射下可在表面积累电荷，改变碳的电子电离后的动能，引起C1s峰位置的移动。
瑞典林雪平大学（LinköpingUniversity）的GrzegorzGreczynski和LarsHultman一直致力于研究XPS数据校准方法存在的问题，全国并在最近的实验研究中给出了直接证据。随着从位置1（铝箔）移动到位置9（金箔），首个设地Al2p信号强度逐渐降低，峰值位置没有变化，而Au4f峰值的强度（图4b）增加。
如图3 所示，碳排统建支配AdC的C1s光谱的C-C/C-H峰的BE，碳排统建很大程度上取决于探测的样品区域，记录的数据从AdC/Al的286.6eV（底部光谱）到AdC/Au的285.0eV（（顶部）变化。
图1.不同金属表面的C1sXPS谱图[2]其实在2020年1月24日，放方标GrzegorzGreczynski和LarsHultman二人就在Angew.Chem.Int.Ed.上发表观点性文章，放方标《无知的仪器校准损害科学需要重新审视半个世纪已发布的XPS数据》「CompromisingSciencebyIgnorantInstrumentCalibration—NeedtoRevisitHalfaCenturyofPublishedXPSData」。然而，线监业内人士指出，打折降价，在很大程度上是一种自杀行为。
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